Órák óta ülök az atomi erőmikroszkóp (AFM)* képernyője előtt,… nyílik az ajtó, a laborvezető lép be egy úr kíséretében. Van nála egy maroknyi mezüze**. Elmondja az áldást, s felhelyezi a január elején berendezett új pásztázó tűszondás mikroszkópiai (SPM) szoba ajtófélfáján a pergamentet rejtő kis tokot. Nincs nagy felhajtás, csak mi hárman vagyunk tanúi a “tudomány- és vallástörténeti” eseménynek. Néhány pillanat, amikor a tradíció randevút ad a nanotechnológiának. Felemelő érzés a nagy találkozás szemtanújának lenni!
Pár perc múlva ismét visszatér a főnök, s mosollyal az arcán csak annyit mond: “András, most már tényleg csak sikeres lehet a kutatás!” 🙂
*MEZÜZE: Az egyik legismertebb vallási jelkép a hívő zsidók ajtófélfáin található kis doboz, a mezüze. Ez a héber szó egyszerűen ajtófélfát jelent, mert a mózesi törvény már ősi időben elrendelte: és írjátok azokat házad és kapuid ajtófélfáira. Éppen ezért a dobozban található kis pergamen (héberül kláf) lapon a legfőbb zsidó imádság, a “Halljad Izrael” első két szakaszát találjuk, kézzel írt kalligrafikus héber betűkkel. (forrás és további részletek a szócikkre kattintva)
**AFM /atomic force microscope – atomi erőmikroszkóp/: Az atomi erőmikroszkóp (AFM) a nanotechnológia egyik legfontosabb vizsgálati és manipulációs eszköze.A pásztázó szondás módszerek a XX. század végén alakultak ki. Az első ilyen technikát, a pásztázó alagútmikroszkópot (STM-et) Binnig és Rohrer találták fel 1981-ben. Az új mikroszkóp olyan áttörést hozott az atomi és nanométeres skálájú felületi struktúrák vizsgálatában, melyet 1986-ban Nobel-díjjal jutalmaztak. Ezt követően gyors ütemben jelentek meg további pásztázó szondás módszerek, köztük az atomi erőmikroszkóp (AFM, 1986). A pásztázó szondás módszerek közös tulajdonsága, hogy egy mikroszkopikus méretű szonda pásztázza a vizsgálandó felületet. Az AFM esetén a hegyes tű és a minta közt fellépő erőt mérjük. (forrás és további részletek a szócikkre kattintva)